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SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-VE是一款、快速測(cè)量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡(jiǎn)便，可一鍵快速測(cè)量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息

SE-i光譜橢偏儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍膜工藝研究的需要開(kāi)發(fā)的原位薄膜在線(xiàn)監(jiān)測(cè)中的定制化開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)作為一種小型橢偏集成機(jī)臺(tái)，通過(guò)整體高度模塊化，電、氣路集成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)不同橢偏測(cè)量模塊在線(xiàn)/離線(xiàn)式整體橢偏測(cè)量解決方案

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-VM是一款高精度快速測(cè)量光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-PV光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域?qū)Ｓ眯凸庾V橢偏儀，針對(duì)光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)能電池表面減反膜測(cè)量定制開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)薄膜物性表征分析

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測(cè)量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動(dòng)Mapping測(cè)量模塊，通過(guò)橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測(cè)量表征分析